產(chǎn)品列表 / products
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簡(jiǎn)要描述：ME系列 PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀基于時(shí)域反射原理，采用真差分寬帶取樣技術(shù)，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的高帶寬特性阻抗測(cè)試分析設(shè)備。能夠自動(dòng)、快速、批量、準(zhǔn)確測(cè)試線(xiàn)路板及電線(xiàn)電纜的特性阻抗，具備波形顯示與分析，適用于 PCB硬板，F(xiàn)PC 軟板，電線(xiàn)電纜的阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間：2025-07-05
產(chǎn)品型號(hào)： ME045/ME085/ME150
所屬分類(lèi)：PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀
訪問(wèn)量：5079
TDR特性阻抗測(cè)試儀的概述：
TDR特性阻抗測(cè)試儀是一種重要的儀器，用于測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)、電纜或其他傳輸線(xiàn)上的阻抗特性和故障位置。其工作原理簡(jiǎn)單而高效。首先，它發(fā)送一個(gè)短脈沖信號(hào)，這個(gè)信號(hào)沿著被測(cè)導(dǎo)體傳播。當(dāng)信號(hào)遇到導(dǎo)體的不同特性時(shí)，如阻抗不匹配、斷路或短路，部分信號(hào)會(huì)反射回測(cè)試儀。通過(guò)監(jiān)測(cè)這些反射信號(hào)的強(qiáng)度和時(shí)間，TDR測(cè)試儀可以精確確定導(dǎo)體的阻抗值、長(zhǎng)度以及故障位置。
軟件界面
TDR特性阻抗測(cè)試儀的原理與用途：
產(chǎn)品基于時(shí)域反射原理，采用真差分寬帶取樣技術(shù)，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的高帶寬特性阻抗測(cè)試分析設(shè)備。能夠自動(dòng)、快速、批量、準(zhǔn)確測(cè)試線(xiàn)路板及電線(xiàn)電纜的特性阻抗，具備波形顯示與分析，適用于PCB硬板，F(xiàn)PC軟板，電線(xiàn)電纜的阻抗測(cè)試。
TDR特性阻抗測(cè)試儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：
①包括 ME045/ME085/ME150三種不同帶寬系列產(chǎn)品可供選擇，全面覆蓋阻抗條測(cè)試，軟板/硬板板內(nèi)測(cè)試。
②蕞高帶寬可達(dá)15GHz，短測(cè)試線(xiàn)長(zhǎng)1.5cm，長(zhǎng)可達(dá)到5m。遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)TDR儀器水平。
③儀器內(nèi)置校準(zhǔn)件，固化智能校準(zhǔn)程序，開(kāi)機(jī)自檢校準(zhǔn)，解決了此類(lèi)儀器當(dāng)前使用存在的不會(huì)校準(zhǔn)，校準(zhǔn)繁瑣，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)偏差，長(zhǎng)時(shí)間使用時(shí)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)偏移等問(wèn)題。
④可以進(jìn)行阻抗條測(cè)試，搭配可調(diào)探頭可進(jìn)行板內(nèi)阻抗測(cè)試，輕松應(yīng)對(duì)5G類(lèi)阻抗產(chǎn)品的測(cè)試。
⑤內(nèi)置靜電保護(hù)電路，可耐靜電6kV，不需要嚴(yán)苛的防靜電試驗(yàn)室和穿防靜電服操作，可在車(chē)間環(huán)境中使用。
⑥采用真差分測(cè)量技術(shù)，測(cè)試精度更高。
⑦采用了高精度多點(diǎn)校準(zhǔn)與自動(dòng)校準(zhǔn)相結(jié)合技術(shù)，出廠多點(diǎn)校準(zhǔn)，精度更高，使用更放心。
⑧測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出支持多種測(cè)量數(shù)據(jù)格式，可供ERP系統(tǒng)讀取。
⑨智能化測(cè)試軟件，自動(dòng)抓取波形起始點(diǎn)和末端，設(shè)置到測(cè)試三步完成，操作簡(jiǎn)單，并且自動(dòng)抓取減少了人工錯(cuò)誤和不同人員操作造成的偏差。
| 產(chǎn)品型號(hào) | ME045 | ME085 | ME150 |
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阻抗測(cè)量范圍 | 單端 10~150Ω | ||
| 差分 20~200Ω | |||
| 阻抗精度 | 單端：25 歐±1.5%，50 歐±1%，100 歐±2% | ||
| 帶寬 | 4.5G | 8.5G | 15G |
| 短測(cè)試長(zhǎng)度 | 4cm | 2.5cm | 1.5cm |
| 入射波上升時(shí)間 | <100ps | <70ps | <50ps |
| 使用范圍 | 阻抗條測(cè)試 | 阻抗條測(cè)試，板內(nèi)測(cè)試 | 阻抗條測(cè)試，板內(nèi)測(cè)試 |
| 阻抗解析度 | 0.03Ω | ||
| 線(xiàn)性解析度 | 200 點(diǎn)/英寸 | ||
| 通道數(shù) | 4 通道。2 個(gè)單端，1 對(duì)差分 | ||
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輸入端口 | 1、前面板：測(cè)試通道（S1 /S2/DP,/DN,)4 個(gè) SMA/50Ω，靜電手環(huán)插孔 1 個(gè)。 2、后面板；電源插孔 1 個(gè)，網(wǎng)絡(luò)接口 1 個(gè)。 | ||
| 軟件 | 可運(yùn)行在 Windows/ Linux 環(huán)境 | ||
| 測(cè)量功能 | 單端測(cè)量/差分測(cè)量/共模測(cè)量 | ||
| 數(shù)據(jù)接口 | LAN（100M），IP 地址任意設(shè)置 | ||
| 功耗 | <65W（AC220V/50Hz） | ||
| 尺寸 | 375mmX400mmX89mm （LxWxH） | ||
| 重量 | 5Kg | ||
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符合標(biāo)準(zhǔn)：
①I(mǎi)PC-TM-650 標(biāo)準(zhǔn) PCB 傳輸線(xiàn)特性阻抗時(shí)域反射測(cè)試方法。
②Intel 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) PCB 測(cè)試方法（TDR 測(cè)試 PCB 特性阻抗）。
③中國(guó) CPCA 標(biāo)準(zhǔn) 印制板特性阻抗時(shí)域反射測(cè)試方法。
④各種高速串行總線(xiàn)通行標(biāo)準(zhǔn)（USB、SATA、PCI-E、HDMI、DP 等）。
